描述

CC-TDOB01

PLC模擬量模塊輸出的0-10v電壓或者4-20mA電流都可以接到變頻器上，實際生產(chǎn)中也是這樣使用的。還有你說的電位器控制，也要接變頻器端子1和2的10V電壓，見上傳圖片–變頻器接線圖。
2.模擬量輸入（電壓或電流信號）僅僅修改P756是不夠的，還要將端子板上的DIP開關(guān)必須設(shè)定為正確的位置。見上傳圖片–變頻器模擬量輸入
DIP1（左面）模擬量輸入1設(shè)為OFF表示0-10V，模擬量輸入1設(shè)為ON表示0-20mA。
DIP2（右面）模擬量輸入2和DIP1同理。

根據(jù)電子產(chǎn)品高溫老化的要求以及我單位的實際情況，對一間廠房進(jìn)行了改造裝修，其重點放在空間布置和絕熱設(shè)計上。平面布置如圖2所示，房間被分成兩部分，外間作為控制室，控制箱懸掛在控制室的墻上。內(nèi)間作為高溫老化室，是由絕熱材料形成的密閉空間。頂部采用鋼龍骨吊頂，吊頂一角留有活動板以便維修人員進(jìn)入頂部進(jìn)行維護(hù)，控制室的控制線經(jīng)過吊頂上部，然后再分布到老化室的各個部分。絕熱墻體采用鋼龍骨框架，保證有足夠的強度和剛度，絕熱墻體兩面覆防火板，中間填充絕熱材料，如巖棉等（25oC時熱導(dǎo)率約0.04w·m-1·k-1）。老化室的門雙面覆鍍鋁鋅鋼板，中間填充絕熱材料，門框與門之間采用硅橡膠密封。后墻推拉窗及前墻觀察窗采用雙層玻璃結(jié)構(gòu)，具有良好的密封和絕熱效果，同時便于采光和監(jiān)視。在老化室墻體四角放置四個風(fēng)機，以便室內(nèi)空氣循環(huán)流動，均勻室內(nèi)空氣的溫度。

C62291 Rucker & Kolls R&K 691 Automatic Wafer Prober

CT71086 Karl Suss Wafer Prober Probe Station w/Wild M3Z

K74410 GE LUNAR Prodigy 8743 Bone Densitometer Density

C59276 Orthodyne 20B Ultrasonic Large Wire Bonder

C69693 K&S 4129 Deep Access 90° Wedge Wire Bonder

C64901 K&S Kulicke Soffa 4126 Step-Back Wedge Bonder

C59003 K&S 4123 Manual Wedge Wire Bonder (Refurbished)

C58972 K&S 4123 Manual Wedge Wire Bonder (refurbished)

A73229 Beckman Coulter DU 800 UV/ Vis Spectrophotomet?er

C69596 Westbond 7400A Deep Access Vertical Feed Bonder

C64574 HTG 84-3 (350W) UV Lamp Mask Aligner w/Power Sup

G51906 Wentworth Labs. MP2000 8″ Probe Station

C71219 Westbond 7416A Thermocompressi?on Ribbon Bonder

C59153 Electroglas 2001X Wafer Prober Probe Station

A69438 Applied Materials 8300 Plasma Etch Chamber/Parts

C68471 Signatone CAP-463 Computer Aided 6″ Wafer Prober

C69868 Westbond 7416A Thermocompressi?on Wedge Bonder

C69867 Westbond 7700A Deep Access Ball & Wedge Bonder

C64997 Westbond 7416A Thermocompressi?on Wedge Bonder

C70110 Westbond 7700A Deep Access Ball & Wedge Bonder

C70147 Westbond 7200B Pick & Place Epoxy Die Bonder

C70442 Westbond 7700A Ultrasonic Ball & Wedge Bonder

A52247 Inficon UL500 Dry Leybold, Anest Iwata Vac Pump

G53925 Olympus Measuring Microscope System

A72283 (3) Tokyo Electron P-8XL Wafer Probers, P-8

C30694 Dage Microtester 22 Wire Shear/Pull Tester BT22